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Improving the precision of optical metrology with weak measurement

创建于2021年12月08日 星期三作者 : 科研办 浏览量 :

主讲人:陈耕,中国科学技术大学量子信息重点实验室教授

时  间:2021年12月10日,10:00-11:30

地  点:物电学院A栋414

联系人:罗海陆



讲座摘要: 弱测量由于其独特的信号放大能力,近些年来受到了学术界的广泛研究和关注。然而关于弱测量信号放大能力的本质和其提升测量精度的能力受到了部分学者的质疑。本报告将分析弱测量的后选择带来的利与弊,也就是信号放大与对应的噪声提升,从而阐明弱测量相对于经典测量方法的优势所在。报告人进一步介绍近期若干实验工作: 包括利用改进型的弱测量方法实现超越经典极限精度的光学相位精密测量;以及提升光电探测的动态响应范围从而使用更少的光子达到更高的测量精度。




主讲人简介:陈耕,中国科学技术大学量子信息重点实验室教授。2010年获得博士学位,师从郭光灿院士和李传锋教授, 研究领域为量子光学与量子信息。主要方向为基于光学系统的精密测量,相关工作近期发表在Nature Communication, Physical Review Letters, Light: Science and Applications等国际知名期刊上。目前主持国家自然科学基金面上项目,重大研究计划培育项目,优秀青年科学基金项目。


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